Аттенюация интенсивностей спектральных компонент многоволновой импульсной лазерной системы за счет брэгговской дифракции излучения на нескольких акустических волнах

Автор: | 19.10.2022

А. С. Мачихин, М. О. Шарикова, А. И. Ляшенко, А. Б. Козлов, В. Э. Пожар, В. А. Ломонов, Е. Стойкова

  • Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН
  • Научно-исследовательский институт “Полюс” им. М. Ф. Стельмаха, г. Москва
  • Федеральный научно-исследовательский центр «Кристаллография и фотоника» РАН, Россия
  • Институт оптических материалов и технологий Академии наук Болгарии, Болгария
Аннотация: Описан метод плавного управления интенсивностями нескольких спектральных компонент излучения многоволновой лазерной системы. В основе метода лежит использование одновременной брэгговской дифракции на совокупности акустических волн соответствующих частот и подстройки их амплитуд. Эффективность метода продемонстрирована на примере многоволновой системы на основе импульсного Nd : YAG-лазера (1064 нм) с внутрирезонаторной параметрической генерацией излучения сигнальной волны (1572 нм) и внерезонаторным преобразованием света в высшие гармоники и суммарные частоты. Независимое управление соотношениями интенсивностей четырех спектральных компонент видимого диапазона (452, 532, 635 и 786 нм) достигается посредством плавного управляемого ослабления (аттенюации) амплитуд акустических волн с использованием оригинального 4-канального акустооптического полихроматора.
Ключевые слова: акустооптика, брэгговская дифракция, селективная аттенюация, импульсный лазер на Nd : YAG
Поступила в редакцию: 25.02.2022
Принята в печать:25.02.2022
Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2022, 52:5, 454–458
Образец цитирования: А. С. Мачихин, М. О. Шарикова, А. И. Ляшенко, А. Б. Козлов, В. Э. Пожар, В. А. Ломонов, Е. Стойкова, “Аттенюация интенсивностей спектральных компонент многоволновой импульсной лазерной системы за счет брэгговской дифракции излучения на нескольких акустических волнах”, Квантовая электроника, 52:5 (2022), 454–458 [Quantum Electron., 52:5 (2022), 454–458]