А. В. Белинский
- Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет
Аннотация: Рассмотрено влияние дефокусировки, обусловленной конечной толщиной кристалла, в котором происходит параметрическое рассеяние, на пространственное разрешение фантомных изображений. Приведены необходимые соотношения, предложены способы нивелирования этого искажающего фактора и повышения качества фантомных изображений.
Ключевые слова: фантомные изображения, качество изображения, запутанные фотоны, аппаратная функция
Поступила в редакцию: 24.03.2020
Исправленный вариант: 05.06.2020
Образец цитирования: А. В. Белинский, “О влиянии дефокусировки на качество квантовых фантомных изображений”, Квантовая электроника, 50:10 (2020), 951–953 [Quantum Electron., 50:10 (2020), 951–953]