Однородность двумерного пространственного распределения эффективности обнаружения фотонов и вероятности перекрестных помех у многопиксельных счетчиков фотонов на микромасштабе

Автор: | 16.11.2022

Лина Лю, Чуньлин Чжан, Джакомо Галлина, Гоцин Чжан

  • School of Science, Xi’an University of Technology, China
  • School of Science, Xi’an University of Architecture and Technology, China
  • TRIUMF, Vancouver, Canada
  • School of Science, Xi’an Polytechnic University, China
Аннотация: Исследована двумерная (2D) однородность пространственного распределения эффективности обнаружения фотонов (ЭОФ) и вероятности оптических перекрестных помех Pct у многопиксельных счетчиков фотонов (МПСФ) на микроскопическом масштабе. Экспериментально показано, что 2D пространственное распределение Pct заметно неоднородно, а именно: Pct имеет большие значения в углах и на краях каждого пикселя в МПСФ, что указывает на более сильное электрическое поле в этих местах пикселя вследствие обеднения носителями. Для ЭОФ неоднородность 2D распределения также становится заметной при небольшом размере пикселей МПСФ, что указывает на увеличение неоднородности распределения электрического поля в МПСФ с уменьшением размера пикселя. Предложен метод характеризации однородности пространственного распределения двумерного электрического поля в отдельном пикселе МПСФ, который можно использовать для управления процессом оптимизации МПСФ и их свойств. Эти перспективные методики могут быть естественно распространены на любые гейгеровские лавинные фотодиоды и их массивы.
Ключевые слова: многопиксельный фотонный счетчик, кремниевый фотоумножитель, однородность пространственного распределения, эффективность обнаружения фотонов, вероятность оптических перекрестных помех, микроскопический масштаб.
Поступила в редакцию: 25.09.2019
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2020, 50:2, 197–200
Образец цитирования: Лина Лю, Чуньлин Чжан, Джакомо Галлина, Гоцин Чжан, “Однородность двумерного пространственного распределения эффективности обнаружения фотонов и вероятности перекрестных помех у многопиксельных счетчиков фотонов на микромасштабе”, Квантовая электроника, 50:2 (2020), 197–200 [Quantum Electron., 50:2 (2020), 197–200]