Г. И. Грейсух, Е. Г. Ежов, О. А. Захаров, В. А. Данилов, Б. А. Усиевич
- Пензенский государственный университет архитектуры и строительства
- Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН, г. Москва
- Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
Аннотация: Исследованы пилообразные двухслойные микроструктуры с внутренним и наружным, а также с двумя внутренними рельефами, скомпонованные из технологичных и коммерчески доступных на сегодняшний день оптических пластмасс или из оптической пластмассы и нанокомпозитного материала. С использованием соответствующих модельных микроструктур в рамках строгой теории дифракции оценены предельные спектральные и угловые характеристики пилообразных двухслойных двухрельефных дифракционных микроструктур обоих типов.
Ключевые слова: дифракционный оптический элемент, двухслойная двухрельефная дифракционная микроструктура, дифракционная эффективность, скалярная и строгая теории дифракции.
Поступила в редакцию: 30.09.2020
Образец цитирования: Г. И. Грейсух, Е. Г. Ежов, О. А. Захаров, В. А. Данилов, Б. А. Усиевич, “Предельные спектральные и угловые характеристики пилообразных двухслойных двухрельефных дифракционных микроструктур”, Квантовая электроника, 51:2 (2021), 184–188 [Quantum Electron., 51:2 (2021), 184–188]