Применение оптической магнитометрии для обнаружения слабых магнитных полей, создаваемых токоведущей металлизированной дорожкой

Автор: | 19.10.2022

Е. Таскова, Э. Алипиева, Н. Станкова, В. Ранев, К. Андреева, Д. В. Бражников

  • Institute of Electronics, Bulgarian Academy of Sciences, boul. Tzarigradsko shosse 72, Sofia, Bulgaria
  • Faculty of Physics, Sofia University, boul. J. Bourchier 5, Sofia, Bulgaria
  • Институт лазерной физики СО РАН, г. Новосибирск
  • Новосибирский государственный университет

Аннотация: Схема накачка – зондирование использована для регистрации резонансов пересечения уровней в нулевом магнитном поле в парах Rb, содержащихся в кювете с антирелаксационным покрытием стенок. Схема применяется для обнаружения слабого магнитного поля, создаваемого токоведущим микропроводом (металлизированной дорожкой). Такие микропровода можно использовать в нейронных протезах и гибридных бионических системах в составе массивов микроэлектродов. В частности, продемонстрирована работа микропровода, являющегося частью интерфейса “нейрон – электрод”, при приложении к нему напряжения, что указывает на возможность дистанционно определять состояние микропроводов (проводит/не проводит) для использования в нейронных имплантатах.

 

Поступила в редакцию: 14.03.2022
Исправленный вариант: 29.04.2022
Принята в печать:29.04.2022
Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2022, 52:6, 544–548
Образец цитирования: Е. Таскова, Э. Алипиева, Н. Станкова, В. Ранев, К. Андреева, Д. В. Бражников, “Применение оптической магнитометрии для обнаружения слабых магнитных полей, создаваемых токоведущей металлизированной дорожкой”, Квантовая электроника, 52:6 (2022), 544–548 [Quantum Electron., 52:6 (2022), 544–548]